英國 DUUMM 3D 藍光掃描系統
高階三維數位化光學量測 ＼ 逆向工程與全尺寸精密 CAV 誤差分析
Blue Light 全新藍光三軸掃描技術
3D RE 專業 3D 逆向工程數位化
CAV Analysis 全尺寸檢測與邊界誤差分析
DUUMM 3D 先進光學量測與分析機能
光學掃描與逆向工程
- 三維數位化 : 搭載尖端 全新藍光三軸掃描 技術，快速精準捕捉複雜幾何表面數據
- CAD模型重建 : 完美對接高階 3D逆向工程，將點雲資料高效轉化為標準 CAD 實體模型
- 虛擬接觸量測 : 系統內建先進的 三次元量測模擬 功能，靈活對接傳統坐標量測路徑
全尺寸 CAV 與公差檢測
- 誤差幾何比對 : 標配強大 CAV檢測分析，將實測 3D 數據與原始設計圖紙進行全方位比對
- 截面形貌追蹤 : 提供精準的 2D斷面誤差檢測，直觀剖析特定位置的細微形變
- 形位公差檢驗 : 支援國際標準 3D GD&T 尺寸公差 檢測，嚴格判定真圓度、平面度及位置度
- 斷面邊緣比對 : 具備高靈敏度 邊界誤差分析 機能，快速抓出沖壓、鑄造件的飛邊與邊緣變形
大數據品管與智慧報表
- 批量工件核對 : 系統支援極速 批量資料比對，輕鬆因應產線抽檢與批量工件品檢產能
- 品管能力監控 : 完美無縫整合 SPC統計分析 軟體，即時監控製程趨勢與 Cp/Cpk 品管表現
- 一鍵效率生成 : 具備 自動報表輸出 系統，檢測完畢立即產出直觀色差圖（Color Map）與品檢報告
3D 藍光逆向工程設備採購問答
Q1 英國 DUUMM 的「全新藍光三軸掃描技術」相較於傳統白光掃描或紅外線雷射掃描，在工業檢測上有何核心技術優勢？
傳統白光掃描儀極易受到科技廠車間外部環境光、照明燈光線的干擾，且在量測高反光金屬表面或暗色工件時常因過曝而失效。英國 DUUMM 採用的工業級藍光光源具有更短的波長，具備極強的抗干擾性。即使在車間強光下，亦能高效過濾雜光，精準捕捉工件微細特徵。再配合「三軸自動化掃描」結構，大幅降低了人工操作引入的點雲拼接誤差，能為 3D 逆向工程與 CAV 誤差比對提供極致純淨、高重複性的幾何大數據。
Q2 什麼是 CAV 檢測分析與 3D GD&T 尺寸公差？這款設備如何協助我們加速新產品的研發與首件（FAI）品檢流程？
CAV（Computer Aided Verification）即電腦輔助檢測。新產品打樣或模具試模後，DUUMM 3D 能極速將打樣工件表面完全數位化，並將其與原始 3D CAD 圖紙進行精準對齊。系統會自動進行「3D GD&T 尺寸公差」與「邊界誤差分析」，直接以直觀的「3D 彩色色差圖（Color Map）」和「2D 斷面誤差檢測」呈現出工件在各個座標軸向上的變形量（如紅藍色差表示正負偏差）。這讓研發與品管單位能一目了然地知道哪裡需要修模、哪裡不符公差，透過「自動報表輸出」一鍵生成 FAI 報告，大幅縮短研發週期。
Q3 我們廠內原先有傳統的接觸式三次元（CMM），這套 3D 藍光掃描系統的「三次元量測模擬」與「SPC統計分析」能如何優化現出品檢流程？
傳統接觸式三次元量測精度雖高，但在量測複雜曲面（如塑料沖壓件、軟性橡膠或帶有上萬點幾何特徵的工件）時速度極慢，且探針無法觸及工件死角。DUUMM 系統的「三次元量測模擬」功能允許您在點雲大數據上，以虛擬探針形式模擬傳統三次元的點、線、圓、距離量測路徑，兼顧了傳統 CMM 的習慣與非接觸式的高速。更強大的是，在進行批量生產時，其「批量資料比對」搭配內建的「SPC統計分析」軟體，能即時統計複數工件的製造偏差趨勢，幫大廠及精密加工廠預先防範製程走歪，提升權威品質控管。